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JCM7000掃描透射電子顯微鏡 ，是用聚焦電子束在試樣表面逐點掃描成像，成像信號可以是二次電子、背散射電子或吸收電子。用來測定樣品微觀形貌結(jié)構(gòu)，可測樣品：土壤、水、金屬、巖礦、煤炭、油料、塑料、陶瓷、植物、保健品等多種樣品，涉及行業(yè)：地質(zhì)、冶金、材料、農(nóng)業(yè)、石油、化工、制藥、食

JSM-IT200掃描電子顯微鏡，是用聚焦電子束在試樣表面逐點掃描成像，成像信號可以是二次電子、背散射電子或吸收電子。二次電子信號被探測器收集轉(zhuǎn)換成電訊號，經(jīng)視頻放大后輸入到顯像管柵極，調(diào)制與入射電子束同步掃描的顯像管亮度，得到反映試樣表面形貌的二次電子像。用來測定樣品微觀形貌結(jié)構(gòu)，可測樣品：土壤、水、金屬、巖礦、煤炭、油料、塑料、陶瓷、植物、保健品等多種樣品，

JSM-IT500掃描電子顯微鏡，是用聚焦電子束在試樣表面逐點掃描成像，成像信號可以是二次電子、背散射電子或吸收電子。二次電子信號被探測器收集轉(zhuǎn)換成電訊號，經(jīng)視頻放大后輸入到顯像管柵極，調(diào)制與入射電子束同步掃描的顯像管亮度，得到反映試樣表面形貌的二次電子像。用來測定樣品微觀形貌結(jié)構(gòu)，可測樣品：土壤、水、金屬、巖礦、煤炭、油料、塑料、陶瓷、植物、醫(yī)療器械，保健品等多種樣品。

JCM7000進(jìn)口掃描電鏡是用聚焦電子束在試樣表面逐點掃描成像，成像信號可以是二次電子、背散射電子或吸收電子。用來測定樣品微觀形貌結(jié)構(gòu)，可測樣品：土壤、水、金屬、巖礦、煤炭、油料、塑料、陶瓷、植物、保健品等多種樣品，涉及行業(yè)：地質(zhì)、冶金、材料、農(nóng)業(yè)、石油、化工、制藥等。

蔡司Sigma 300/500系列是擁有高品質(zhì)成像和分析功能的場發(fā)射掃描電鏡。它收益于久經(jīng)考 驗的Gemini電子光學(xué)技術(shù)。Sigma300/500可以配備多種探 測器，可以滿足不同的應(yīng)用需求：顆粒物，表面構(gòu)型及納米結(jié)構(gòu)等樣品的成像。利用Sigma 300/500直觀的4 步工作流程，可以使得日常所需的成 像和分析的效率得到提高。