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簡要描述：CMM CONTURA高性能蔡司三坐標測量機廣泛適用于各類型工件的測量，其獨到的蔡司固定臺面 CARAT 材質橋式結構，高穩(wěn)定低運動重心設計，高精度掃描測頭系統(tǒng)及眾多技術優(yōu)勢，確保了系統(tǒng)的精度及動態(tài)性能，高剛性結構提高了系統(tǒng)對于環(huán)境的抗干擾性能及長久的穩(wěn)定性。
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一、產品基本介紹
1、設備名稱：蔡司三坐標測量機
2、設備型號： CMM CONTURA 7/10/6 RDS
3、設備品牌及產地：卡爾蔡司/德國
二、測量機技術規(guī)格
蔡司三坐標測量機廣泛適用于各類型工件的測量，其獨到的蔡司固定臺面 CARAT 材質橋式結構，高穩(wěn)定低運動重心設計，高精度掃描測頭系統(tǒng)及眾多技術優(yōu)勢，確保了系統(tǒng)的良好精度及動態(tài)性能，高剛性結構提高了系統(tǒng)對于環(huán)境的抗干擾性能及長久的穩(wěn)定性。
| 機型 | CMM CONTURA 7106 RDS |
| 測量機設計 | 高性能固定臺面橋式機體設計 |
| 測量范圍(mm) | X=700 Y= 1000 Z= 600 |
| 工件尺寸（mm） | 寬 B17= 827 長 B16= 1350 高 B18= 600 |
| 機器外形尺寸（mm） | 寬 B6= 1381 長 B5= 1913 高 B7= 2658 |
| 整機重量（kg） | 1570 |
| 工件重量 (kg) | 730 |
| 掃描速度 | 125 |
| 空間運動速度 | 475 |
| 空間運動加速度 | 1850 |
| 長度測量誤差MPE-E0/E150 (ISO10360-2:2009) (μm) | 1.5 + L/ 350 |
| E0 重復性范圍 MPL-R0 (ISO10360-2:2009) (μm) | 1.5 |
| 單探針形狀探測精度 MPE-PFTU （ISO 10360-5:2010）(μm) | 1.5 |
| 形狀測量誤差 MPE-RONt（MZCI） ISO 12181）(μm) | 1.5 |
| 掃描誤差 THP(μm)/檢測時間 MPT(s)（ISO 10360-4：2000） | 2.7 / 50 |
| 保證以上精度的溫度范圍及梯度,濕度要求 | 18 - 22°C, 1.5 K/d, 1 K/h, 1 K/m, 30-60 % |
| 電源 | 1/N/PE 125/230/240 VAC ~ (±10%); 50-60Hz (±3.5%),功耗：800 VA，典型功耗：200 W |
| 壓縮空氣 供氣壓力 | 最小 6 bar, 8bar,預清潔. 耗氣量約: 50Nl/min. 壓縮空氣質量遵循 ISO 8573 part 1: class 4 |
| 認證 | 2006/42/EC，EMC directive 2004/108/EC. ISO 9001:2008; VDA 6, Parts 4, 2，ISO 14001:2004，BS OHSAS 18001:2007，ISO/IEC 17025:2005 |
三、系統(tǒng)技術特色
技術特色：高科技機體材料設計
ZEISS CMM CONTURA 采用高精度橋式測量機的主要結構形式，具有更佳的測量空間開敞性。低重心設計確保運動過程的穩(wěn)定性，精益求精的氣浮軸承間隙確保驅動配合的可靠性，高質量減震系統(tǒng)受地基影響相對較小，保證機器具有長期的精度穩(wěn)定性。
CONTURA 具有佳的機械精度，集團秉承了一百七十多年精耕細作的傳統(tǒng)，實行業(yè)界嚴格的品質管控 ZEISS QC 要求。同時，蔡司將材料科技運用：測量系統(tǒng)導軌（橫梁和 Z 軸）配備高科技 DLC 鉆石涂層材料。DLC 鉆石涂層材料各項物理材料性能均表現(xiàn)，DLC 涂層材料彈性模量略低于金剛石（1100GPa），但明顯高于一般金屬的彈性模量可達 170-300Gpa， DLC 鉆石涂層材料具有優(yōu)異的耐磨性，摩擦系數(shù)低至 0.1，是一種優(yōu)異的表面抗磨損新型材料。
VAST XXT 低測力掃描探頭特點：
Ø 可以單點探測；
Ø 可以掃描探測；
Ø 手動探測時不受操作人員影響；
Ø 可以根據名義值掃描；
Ø 可以掃描未知曲線；
Ø 可以自定心打點；
Ø 測量力可調（不需重新校準探針）；
Ø 探測加速度可調；
Ø 標準既能在豎向也可同時在橫向連接探針；
Ø GDT 測量 (尺寸,形狀和位置) 可測量多種角度位置；
Ø 測量力小: 低測力使探針接觸工件時變形更??；
Ø 最小探針直徑 0.3mm；
Ø 精確 – 可測量尺寸,形狀, 位置；
Ø 探測力可通過軟件調節(jié) (VAXT XXT: 0.01-0.13N)；
Ø 掃描速度快 ( 150 點/秒)；
Ø 三個探頭模塊，可使用長的探針 (30-125,125-250,30-150mm), 可側面連接或星形探針（側邊探針最長 65mm)；
Ø 校準可修正探針彎曲。
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